Norm

NEN-EN-IEC 60749-4:2002 en;fr

Halfgeleiderlementen - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 4: Vochtige warmte, sterk versnelde belastingproef (HAST)

24,93

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 15
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-09-2002
Taal Engels, Frans
Provides a highly accelerated temperature and humidity stress test (HAST) for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged semiconductor devices in humid environments.

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiderlementen - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 4: Vochtige warmte, sterk versnelde belastingproef (HAST)
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, highly accelerated stress test (HAST)
Vervangt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen