Norm

NEN-EN-IEC 60749-5:2003 en;fr

Halfgeleiderelementen - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 5: Stationaire temperatuurvaststelling van de systematische afwijking

  • Deze norm is ingetrokken sinds 27-07-2017

16,62

Over deze norm

Status Ingetrokken
Aantal pagina's 13
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-07-2003
Taal Engels, Frans
Provides a steady-state temperature and humidity bias life for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged solid-state devices in humid environments.

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiderelementen - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 5: Stationaire temperatuurvaststelling van de systematische afwijking
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
Vervangen door

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen