Norm

NEN-EN-IEC 60749-5:2017 en

Halfgeleiderelementen - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 5: Stationaire temperatuurvaststelling van de systematische afwijking

18,11

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 9
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-07-2017
Taal Engels
NEN-EN-IEC 60749-5 provides a steady-state temperature and humidity bias life test for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged solid-state devices in humid environments. This test method is considered destructive.

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiderelementen - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 5: Stationaire temperatuurvaststelling van de systematische afwijking
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
Vervangt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen