Norm

NEN-EN-IEC 60749-6:2002 en;fr

Halfgeleiderelementen - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 6: Opslag bij hoge temperaturen

13,29

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 7
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-09-2002
Taal Engels, Frans
Test and determine the effect on all semiconductor electronic devices of storage at elevated temperature without electrical stress applied. This test is considered non-destructive but should preferably by used for device qualification.

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiderelementen - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 6: Opslag bij hoge temperaturen
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
Vervangt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen