Norm

NEN-EN-IEC 60749-7:2002 en;fr

Halfgeleiderelementen - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 7: Bepaling van het interne vochtgehalte en de analyse van andere resterende gassen

  • Deze norm is ingetrokken sinds 19-09-2011

24,93

Over deze norm

Status Ingetrokken
Aantal pagina's 15
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-09-2002
Taal Engels, Frans
Test and measure the water vapour and other gas content of the atmosphere inside a metal or ceramic hermetically sealed service. It is applicable to semiconductor devices sealed in such a manner but generally only used for high realiability applications such as military or aerospace.

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiderelementen - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 7: Bepaling van het interne vochtgehalte en de analyse van andere resterende gassen
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Vervangt
Vervangen door

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen