Norm

NEN-EN-IEC 60749-8:2003 en;fr

Halfgeleiderelementen - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 8: Afdichting

58,16

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 32
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-08-2003
Taal Engels, Frans
Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits). The object of this method is to determine the leak rate of semiconductor devices.

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiderelementen - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 8: Afdichting
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen