Norm

NEN-EN-IEC 60749-9:2002 en;fr

Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 9: Duurzaamheid van de markering

14,96

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 9
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-09-2002
Taal Engels, Frans
Test and verify that the markings on semiconductor devices will not become illegible when subject to solvents or cleaningsolutions commonly used during the removal of solder flux residue from the printed circuit board assembly process.

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 9: Duurzaamheid van de markering
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking
Vervangt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen