Norm

NEN-EN-IEC 62047-7:2011 en

Halfgeleiders - Micro-elektromechanische toestellen - Deel 7: MEMS BAW filter en duplexer voor de besturing en selectie van de radiofrequentie

153,97

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 32
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-09-2011
Taal Engels
This part of IEC 62047 describes terms, definition, symbols, configurations, and test methods that can be used to evaluate and determine the performance characteristics of BAW resonator, filter, and duplexer devices as radio frequency control and selection devices. This standard specifies the methods of tests and general requirements for BAW resonator, filter, and duplexer devices of assessed quality using either capability or qualification approval procedures.

Details

ICS-code 31.080.99
Nederlandse titel Halfgeleiders - Micro-elektromechanische toestellen - Deel 7: MEMS BAW filter en duplexer voor de besturing en selectie van de radiofrequentie
Engelse titel Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 7: MEMS BAW filter and duplexer for radio frequency control and selection

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen