Norm

NEN-EN-IEC 62373:2006 en;fr

Afwijkende temperatuur test voor metaal-oxide, halfgeleider, veldeffecttransistors (MOSFET)

54,34

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 27
Commissie Isolatiesystemen
Gepubliceerd op 01-09-2006
Taal Engels, Frans
This International Standard provides a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).

Details

ICS-code 31.080
Nederlandse titel Afwijkende temperatuur test voor metaal-oxide, halfgeleider, veldeffecttransistors (MOSFET)
Engelse titel Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen