Correctieblad

NEN-EN-IEC 62374-1:2010/C11:2011 en

Halfgeleiders - Time dependent dielectric breakdown (TDDB) beproeving voor vaste metalen lagen

Optioneel verkrijgbaar met:

0,00

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 1
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-04-2011
Taal Engels

Details

ICS-code 31.080
Nederlandse titel Halfgeleiders - Time dependent dielectric breakdown (TDDB) beproeving voor vaste metalen lagen
Engelse titel Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
Wijzigt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen