Norm

NEN-EN-IEC 62374:2007 en;fr

Halfgeleiders - Time dependent dielectric breakdown (TDDB) beproeving voor diëlektrische lagen

117,74

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 43
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-11-2007
Taal Engels, Frans
This International Standard provides a test method of Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) for gate dielectric films on semiconductor devices and a product lifetime estimation method of TDDB failure.

Details

ICS-code 31.080
Nederlandse titel Halfgeleiders - Time dependent dielectric breakdown (TDDB) beproeving voor diëlektrische lagen
Engelse titel Semiconductor devices - Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen