Norm

NEN-EN-IEC 62415:2010 en

Halfgeleiderelementen - Elektromigratiebeproeving van constante stroom

40,76

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 15
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-06-2010
Taal Engels
This standard describes a method for conventional constant current electromigration testing of metal lines, via string and contacts.

Details

ICS-code 31.080
Nederlandse titel Halfgeleiderelementen - Elektromigratiebeproeving van constante stroom
Engelse titel Semiconductor devices - Constant current electromigration test

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen