Norm

NEN-EN-IEC 62416:2010 en

Halfgeleiderelementen - Warmte overbrengingsbeproeving op MOS transistoren

36,23

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 14
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-06-2010
Taal Engels
This standard describes the wafer level hot carrier test on NMOS and PMOS transistors. The test is intended to determine whether the single transistors in a certain (C)MOS process meet the required hot carrier lifetime.

Details

ICS-code 31.080
Nederlandse titel Halfgeleiderelementen - Warmte overbrengingsbeproeving op MOS transistoren
Engelse titel Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen