Norm

NEN-EN-ISO 12179:2000 en

Geometrische productspecificaties (GPS) - Oppervlakgesteldheid: Profielmethode - Kalibratie van contactinstrumenten (naaldvormig)

Volledig inclusief:

88,00

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 17
Commissie Productgeometrie
Gepubliceerd op 01-04-2000
Taal Engels
Applies to the calibration of the metrological characteristics of contact (stylus) instruments for the measurement of surface texture by the profile method as defined in ISO 3274. The calibration is to be carried out with the aid of measurement standards.

Details

ICS-code 17.040.30
Nederlandse titel Geometrische productspecificaties (GPS) - Oppervlakgesteldheid: Profielmethode - Kalibratie van contactinstrumenten (naaldvormig)
Engelse titel Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface texture: Profil method - Calibration of contact (stylus) instruments
Vervangt
Gewijzigd door

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen