Norm

NEN-EN-ISO 25178-604:2010 Ontw. en

Geometrische productspecificaties (GPS) - Oppervlaktegesteldheid: Oppervlakte - Deel 604: Nominale kenmerken van contactloze (door interferometrische coherentie-aftasting) instrumenten

31,83

Over deze norm

Status Ontwerp
Aantal pagina's 33
Commissie Productgeometrie
Gepubliceerd op 01-07-2010
Taal Engels
The present standard describes the metrological characteristics of coherence scanning interferometry (CSI) systems for 3D mapping of surface height.

Details

ICS-code 17.040.20
17.040.30
Nederlandse titel Geometrische productspecificaties (GPS) - Oppervlaktegesteldheid: Oppervlakte - Deel 604: Nominale kenmerken van contactloze (door interferometrische coherentie-aftasting) instrumenten
Engelse titel Geometrical product specifications (GPS) - Surface texture: Areal - Part 604: Nominal characteristics of non-contact (coherence scanning interferometry) instruments
Vervangen door

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen