Norm

NEN-EN-ISO 5436-1:2000 en

Geometrische productspecificaties (GPS) - Oppervlakgesteldheid: Profielmethode - Meetstandaarden - Deel 1: Stoffelijke maten

73,12

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 14
Commissie Productgeometrie
Gepubliceerd op 01-04-2000
Taal Engels
Specifies the characteristics of material measures used as measurement standards (Etalon) for the calibration of metrological characteristics of instruments for the measurement of surface texture by the profile method as defined in ISO 3274.

Details

ICS-code 17.040.30
Nederlandse titel Geometrische productspecificaties (GPS) - Oppervlakgesteldheid: Profielmethode - Meetstandaarden - Deel 1: Stoffelijke maten
Engelse titel Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface texture: Profile method - Measurement standards - Part 1: Material measures
Vervangt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen