Norm

NEN-EN-ISO 9220:1994 en

Metallieke deklagen - Metingen van de laagdikte - Methode door scannen met een elektronenmicroscoop

31,57

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 5
Commissie Metallieke deklagen
Gepubliceerd op 01-12-1994
Taal Engels
Specifies a method for the measurement of the local thickness of metallic coatings by examination of cross-section with a scanning electron microscope. It is destructive and has an uncertainly of less than 10% or 0,1/µm, whichever is greater. It can be used for thicknesses up to several millimetres, but it is usually more practical to use a light microscope.

Details

ICS-code 25.220.40
Nederlandse titel Metallieke deklagen - Metingen van de laagdikte - Methode door scannen met een elektronenmicroscoop
Engelse titel Metallic coatings - Measurement of coating thickness - Scanning electron microscope method

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen