Norm

NEN-IEC 60747-5-3:1998 en;fr

Discrete halfgeleiderelementen en geïntegreerde schakelingen - Deel 5-3: Opto-elektronische elementen - Meetmethoden

  • Deze norm is ingetrokken sinds 01-07-2001

157,87

Over deze norm

Status Ingetrokken
Aantal pagina's 61
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-01-1998
Taal Engels, Frans
Describes the measuring methods applicable to the optoelectronic devices which are not intended to be used in the fibre optic systems or subsystems.

Details

ICS-code 31.260
Nederlandse titel Discrete halfgeleiderelementen en geïntegreerde schakelingen - Deel 5-3: Opto-elektronische elementen - Meetmethoden
Engelse titel Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectric devices - Measuring methods
Vervangen door

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen