Norm

NEN-IEC 62396-2:2012 en

Procesmanagement voor luchtvaartelektronica - Atmosferische stralingsgevolgen - Deel 2: Richtlijnen voor de aanpassing van enkele situaties voor luchtvaartsystemen

190,20

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 38
Gepubliceerd op 01-10-2012
Taal Engels
This part of IEC 62396 aims to provide guidance related to the testing of microelectronic devices for purposes of measuring their susceptibility to single event effects (SEE) induced by atmospheric neutrons. Since the testing can be performed in a number of different ways, using different kinds of radiation sources, it also shows how the test data can be used to estimate the SEE rate of devices and boards due to atmospheric neutrons at aircraft altitudes. Although developed for the avionics industry, this process may be applied by other industrial sectors.

Details

ICS-code 03.100.50
31.020
49.060
Nederlandse titel Procesmanagement voor luchtvaartelektronica - Atmosferische stralingsgevolgen - Deel 2: Richtlijnen voor de aanpassing van enkele situaties voor luchtvaartsystemen
Engelse titel Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 2: Guidelines for single event effects testing for avionics systems
Vervangt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen