Norm

NEN-ISO 13067:2011 en

Microstralenanalyse - Teruggekaatste elektronendiffractie - Meting van de gemiddelde deeltjesgrootte

79,70

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 18
Commissie Microstralen analyse
Gepubliceerd op 01-11-2011
Taal Engels
This International Standard describes procedures for measuring average grain size derived from a twodimensional polished cross-section using electron backscatter diffraction (EBSD). This requires the measurement of orientation, misorientation and pattern quality factor as a function of position in the crystalline specimen

Details

ICS-code 71.040.50
Nederlandse titel Microstralenanalyse - Teruggekaatste elektronendiffractie - Meting van de gemiddelde deeltjesgrootte
Engelse titel Microbeam analysis - Electron backscatter diffraction - Measurement of average grain size

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen