Norm

NEN-ISO 13084:2011 en

Chemische analyse van oppervlakken - Secundaire ionen-massaspectrometrie - Kalibratie van de massa schaal voor een vluchttijd van secundaire ion massaspectrometers

52,53

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 10
Gepubliceerd op 01-07-2011
Taal Engels
This International Standard specifies a method to optimize the mass calibration accuracy in time-of-flight SIMS instruments used for general analytical purposes. It is only applicable to time-of-flight instruments but is not restricted to any particular instrument design. Guidance is provided for some of the instrumental parameters that can be optimized using this procedure and the types of generic peaks suitable to calibrate the mass scale for optimum mass accuracy.

Details

ICS-code 71.040.40
Nederlandse titel Chemische analyse van oppervlakken - Secundaire ionen-massaspectrometrie - Kalibratie van de massa schaal voor een vluchttijd van secundaire ion massaspectrometers
Engelse titel Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary-ion mass spectrometer

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen