Norm

NEN-ISO 13084:2018 en

Chemische analyse van oppervlakken - Secundaire ionen-massaspectrometrie - Kalibratie van de massa schaal voor een vluchttijd van secundaire ion massaspectrometers

80,61 97,54 Incl BTW

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 15
Gepubliceerd op 01-12-2018
Taal Engels
NEN-ISO 13084 specifies a method to optimize the mass calibration accuracy in time-of-flight secondary ion mass spectrometry (SIMS) instruments used for general analytical purposes. It is only applicable to time-of-flight instruments but is not restricted to any particular instrument design. Guidance is provided for some of the instrumental parameters that can be optimized using this procedure and the types of generic peaks suitable to calibrate the mass scale for optimum mass accuracy.

Details

ICS-code 71.040.40
Nederlandse titel Chemische analyse van oppervlakken - Secundaire ionen-massaspectrometrie - Kalibratie van de massa schaal voor een vluchttijd van secundaire ion massaspectrometers
Engelse titel Surface chemical analysis - Secondary ion mass spectrometry - Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer
Vervangt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen