Norm

NEN-ISO 14606:2000 en

Chemische analyse van oppervlakken - Diepteprofielen door sputtering - Optimalisatie door gebruik van gelaagde systemen als referentiematerialen

73,12

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 15
Gepubliceerd op 01-11-2000
Taal Engels
Gives guidance on the optimization of sputter-depth profiling parameters using appropriate single-layered and multilayered reference materials in order to achieve optimum depth resolution as a function of instrument settings in Auger electron spectroscopy, X-ray photoelectron spectroscopy and secondary ion mass spectrometry.

Details

ICS-code 71.040.40
Nederlandse titel Chemische analyse van oppervlakken - Diepteprofielen door sputtering - Optimalisatie door gebruik van gelaagde systemen als referentiematerialen
Engelse titel Surface chemical analysis - Sputter depth profiling - Optimization using layered systems as reference materials

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen