Norm

NEN-ISO 15470:2004 en

Chemische analyse van oppervlakken - Röntgenfotoelektronenspectroscopie - Beschrijving van geselecteerde instrumentale prestatie parameters

31,57

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 4
Gepubliceerd op 01-05-2004
Taal Engels
This International Standard describes the way in which specific aspects of the performance of an X-ray photoelectron spectrometer shall be described.

Details

ICS-code 71.040.40
Nederlandse titel Chemische analyse van oppervlakken - Röntgenfotoelektronenspectroscopie - Beschrijving van geselecteerde instrumentale prestatie parameters
Engelse titel Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Description of selected instrumental performance parameters

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen