Norm

NEN-ISO 16243:2011 en

Chemische analyse van oppervlakken - Registratie en melding van gegevens in de Rontgen photoelectron spectroscopie (XPS)

52,53

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 9
Gepubliceerd op 01-12-2011
Taal Engels
This International Standard specifies the minimum level of information to be reported by the analyst following the analysis of a test specimen using X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). It includes information that is to be recorded on or in the analytical record.

Details

ICS-code 71.040.40
Nederlandse titel Chemische analyse van oppervlakken - Registratie en melding van gegevens in de Rontgen photoelectron spectroscopie (XPS)
Engelse titel Surface chemical analysis - Recording and reporting data in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen