Norm

NEN-ISO 16700:2004 en

Microstralings analyse - Aftastmethode met een elektronenmicroscoop - Richtlijnen voor kalibratie beeldvergroting

  • Deze norm is ingetrokken sinds 15-08-2016

73,12

Over deze norm

Status Ingetrokken
Aantal pagina's 16
Commissie Microstralen analyse
Gepubliceerd op 01-03-2004
Taal Engels
This International Standard specifies a method for calibrating the magnification of images generated by a scanning electron microscope (SEM) using an appropriate reference material. This method is limited to magnifications determined by the available size range of structures in the calibrating reference material. This International Standard does not apply to the dedicated critical dimension measurement SEM.

Details

ICS-code 37.020
Nederlandse titel Microstralings analyse - Aftastmethode met een elektronenmicroscoop - Richtlijnen voor kalibratie beeldvergroting
Engelse titel Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Guidelines for calibrating image magnification
Vervangen door

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen