Aanvulling

NEN-ISO 17331:2004/A1:2010 en

Chemische analyse van oppervlakken - Chemische methoden voor de verzameling van elementen van het oppervlak van referentie-materialen voor silicium-wafels en hun bepaling door röntgenfluorescentiespectrometrie met totale reflectie (TXRF)

Optioneel verkrijgbaar met:

14,49

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 2
Gepubliceerd op 01-07-2010
Taal Engels

Details

ICS-code 71.040.40
Nederlandse titel Chemische analyse van oppervlakken - Chemische methoden voor de verzameling van elementen van het oppervlak van referentie-materialen voor silicium-wafels en hun bepaling door röntgenfluorescentiespectrometrie met totale reflectie (TXRF)
Engelse titel Surface chemical analysis - Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
Wijzigt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen