Norm

NEN-ISO 17470:2004 en

Microstralenanalyse - Elektronen micro-analyse - Richtlijnen voor kwalitatieve punt analyse door golflengte-dispertieve r?ntgenspectrometrie

  • Deze norm is ingetrokken sinds 20-01-2014

48,19

Over deze norm

Status Ingetrokken
Aantal pagina's 10
Commissie Microstralen analyse
Gepubliceerd op 01-09-2004
Taal Engels
This International Standard gives guidance for the identification of elements and the investigation of the presence of specific elements within a specific volume (on a ?m3 scale) contained in a specimen, by analysing X-ray spectra obtained using wavelength dispersive X-ray spectrometers on an electron probe microanalyser or on a scanning electron microscope.

Details

ICS-code 71.040.99
Nederlandse titel Microstralenanalyse - Elektronen micro-analyse - Richtlijnen voor kwalitatieve punt analyse door golflengte-dispertieve r?ntgenspectrometrie
Engelse titel Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen