Norm

NEN-ISO 20903:2006 en

Chemische analyse van oppervlakken - Auger elektronenspectrometers en röntgenfotoelektronenspectrometers - Methoden gebruikt tot het bepalen van pieksterkte en vereiste informatie van verslagleggingresultaten

  • Deze norm is ingetrokken sinds 11-11-2011

79,70

Over deze norm

Status Ingetrokken
Aantal pagina's 13
Commissie Lucht- en ruimtevaart
Gepubliceerd op 01-07-2006
Taal Engels
This International Standard specifies the necessary information required in a report of analytical results based on measurements of the intensities of peaks in Auger electron and X-ray photoelectron spectra. Information on methods for the measurement of peak intensities and on uncertainties of derived peak areas is also provided.

Details

ICS-code 71.040.40
Nederlandse titel Chemische analyse van oppervlakken - Auger elektronenspectrometers en röntgenfotoelektronenspectrometers - Methoden gebruikt tot het bepalen van pieksterkte en vereiste informatie van verslagleggingresultaten
Engelse titel Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results
Vervangen door

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen