Norm

NEN-ISO 20903:2019 en

Chemische analyse van oppervlakken - Auger elektronenspectrometers en röntgenfotoelektronenspectrometers - Methoden gebruikt tot het bepalen van pieksterkte en vereiste informatie van verslagleggingresultaten

80,61 97,54 Incl BTW

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 17
Gepubliceerd op 01-03-2019
Taal Engels
NEN-ISO 20903 specifies the necessary information required in a report of analytical results based on measurements of the intensities of peaks in Auger electron and X-ray photoelectron spectra. Information on methods for the measurement of peak intensities and on uncertainties of derived peak areas is also provided.

Details

ICS-code 71.040.40
Nederlandse titel Chemische analyse van oppervlakken - Auger elektronenspectrometers en röntgenfotoelektronenspectrometers - Methoden gebruikt tot het bepalen van pieksterkte en vereiste informatie van verslagleggingresultaten
Engelse titel Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results
Vervangt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen