Norm

NEN-ISO 24173:2009 en

Microstralenanalyse - Richtlijnen voor oriëntatiemeting met gebruik van teruggekaatste elektronendiffractie

143,10

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 43
Commissie Microstralen analyse
Gepubliceerd op 01-10-2009
Taal Engels
This International Standard gives advice on how to generate reliable and reproducible crystallographic orientation measurements using electron backscatter diffraction (EBSD). It addresses the requirements for specimen preparation, instrument configuration, instrument calibration and data acquisition.

Details

ICS-code 71.040.50
Nederlandse titel Microstralenanalyse - Richtlijnen voor oriëntatiemeting met gebruik van teruggekaatste elektronendiffractie
Engelse titel Microbeam analysis - Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen