Norm

NEN-ISO 6342:2003 en

Microfilmtechniek - Vensterponskaarten - Methode voor de diktemeting van het bevestigingsgebied

31,57

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 3
Gepubliceerd op 01-08-2003
Taal Engels
This International Standard specifies a method of measuring the thickness of the buildup area on aperture cards (camera and copy cards) for manufacturing and inspection purposes.

Details

ICS-code 37.080
Nederlandse titel Microfilmtechniek - Vensterponskaarten - Methode voor de diktemeting van het bevestigingsgebied
Engelse titel Micrographics - Aperture cards - Method of measuring thickness of buildup area

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen