Norm

NPR-ISO/TR 19319:2004 en

Chemische analyse van oppervlakken - Auger elektronenspectrometers en röntgenfoto-elektronenspectrometers - Bepaling van zijdelingse resolutie, analysegebied, en voorbeeldgebied bekeken door de analysator

73,12

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 17
Gepubliceerd op 30-01-2004
Taal Engels
This Technical Report provides information for measuring the lateral resolution, the analysis area, and the sample area viewed by the analyser in Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy.

Details

ICS-code 71.040.40
Nederlandse titel Chemische analyse van oppervlakken - Auger elektronenspectrometers en röntgenfoto-elektronenspectrometers - Bepaling van zijdelingse resolutie, analysegebied, en voorbeeldgebied bekeken door de analysator
Engelse titel Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Determination of lateral resolution, analysis area, and sample area viewed by the analyser

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen