Norm

NPR-ISO/TS 24597:2011 en

Microstralenanalyse - Scanning elektronenmicroscoop - Methoden voor de evaluatie van beeldscherpte

179,33

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 87
Gepubliceerd op 01-07-2011
Taal Engels
This Technical Specification specifies methods of evaluating the sharpness of digitized images generated by a scanning electron microscope (SEM) by means of a Fourier transform (FT) method, a contrast-to-gradient (CG) method and a derivative (DR) method.

Details

ICS-code 37.020
Nederlandse titel Microstralenanalyse - Scanning elektronenmicroscoop - Methoden voor de evaluatie van beeldscherpte
Engelse titel Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Methods of evaluating image sharpness

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen