Norm

NVN-ENV 50218:1996 en

Beschrijving van een Europese mini proef-chip waarvan de parameters zijn bepaald

49,30

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 19
Commissie Symbolen en tekeningen
Gepubliceerd op 01-03-1996
Taal Engels
Documents the parameterized MOS test structure of the device model Parameter extraction Test Chip (PTC) of the European Mini Test Chip (ETC). The devices of the PTC are a subset of the devices of the ETC. The modules of the ETC provide a minimum set of test structures used to characterize a MOS technology. The test structures of the ETC are generated automatically by a computer program for a given MOS technology. The program also generates test structures which are designed to characterize reliability aspects of a MOS technology (Reliability Test Chip, RTC).

Details

ICS-code 31.200
35.240.99
Nederlandse titel Beschrijving van een Europese mini proef-chip waarvan de parameters zijn bepaald
Engelse titel Description of a parametrized European mini-chip

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen