Commissie

Microstralen analyse

342 202

De normcommissie 342 202 ‘Microstralen analyse’ volgt het internationale werk van een aantal technische commissies.

Deze normcommissie volgt het werk van de volgende ISO/TC’s:

ISO/TC 202 Microbeam analysis
ISO/TC 202/SC 4 Scanning electron microscopy (SEM)

Eerder door u bekeken

Neem contact op

Voor meer informatie of als u zich wilt aanmelden als lid, neem contact op met Isabel Polderdijk.

mb@nen.nl

(015) 2 690 443